涂層測厚儀一般是指通過無損檢測方式測量涂鍍層厚度的儀器，常見有渦流和磁感應涂層測厚儀，其中磁感應涂層測厚儀應用最為廣泛。涂層測厚儀儀器使用起來比較簡單，其中較為復雜一點的就是儀器校準。儀器校準的程度直接影響測量結果的準確性。涂層測厚儀儀器校準包括儀器校零和校滿度兩個方面。下面以科強MC-2000系列涂層測厚儀儀器校準作簡單說明：
1，儀器校零
校零是指針對鐵基的校準，一般用儀器隨機鐵基試塊進行校準。如果方便的話最好用不帶涂層的測量體的基體進行校零，這樣測量結果更加精確。MC-2000系列涂層測厚儀校零過程：
（1）將測量探頭壓在校準基體上，再輕按一下校零鍵ZWRO進行校零。在按ZERO鍵時，測量探頭在鐵基上不要晃動。同時要注意，只有在按完ZERO鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。
（2）用測量探頭重新測量一下基體，儀器顯示屏讀數(shù)應為0，說明校零成功，否則，應得新校零。
2，儀器的校滿度是指對標準膜片進行的校準，為了降低測量誤差，一般選擇和測量涂層厚度相近的標準模塊進行校準。
（1）先將與要測量鍍層厚度值接近的標準模塊放在鐵基或者其它不帶涂層的測量基體上。
（2）講儀器測量探頭壓在標準膜片上，儀器顯示屏顯示測量數(shù)據(jù)，若測量值與標準膜片不同，提起測量探頭，可通過加1鍵或減1鍵來修正測量值。
（3）為了較少測量誤差，依照上述方法多次校準同一標準膜片。
（4）對于厚度值差別比較大的涂層的測量，可以選擇較為折中的樣片進行校準，或者更換多個校準膜片分別校準。
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